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【6月2日】工程科学前沿讲坛第122讲：加拿大西安大略大学专家讲座

讲座题目：Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry and Its Applications in Materials Sciences

主讲人：聂恒勇 研究员

讲座时间：2015年6月2日（星期二）上午9:00

讲座地点：国家镁合金工程中心会议室（A区综合实验大楼319）

讲座内容：

Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) is a surface-sensitive analytical technique used to identify elements and molecules. It probes the topmost 1-3 nm of a surface by measuring the (secondary) ions generated by bombarding the surface with a pulsed (primary) ion beam. With another sputter ion beam to remove a controllable amount of substance, ToF-SIMS is also a unique technique to probe chemical information in depth with a depth resolution of~1nm. In this talk, I will discuss instrumentation of ToF-SIMS, its applications in materials sciences including surface contaminant identification, depth-profiling and imaging of elements and Molecules.

主讲人介绍：

聂恒勇，毕业于中国电子科技大学（1984）,获日本筑波大学工学博士（1992）。曾任日本通产省工业技术研究院（1992-1995）及三菱化学（1995-1997）特别研究员。现任表面科学中心研究员和物理与天文学系兼职教授。在金属－半导体界面、表面化学、自组装单分子膜形成机理及其表征方面具有丰富的研究经验，已发表六十多篇论文。是原子间力显微镜及飞行时间型二次离子质谱仪方面的专家，为工业界用户提出大约700份有关表面及界面的分析报告。主要研究方向是开发表面分析方法在材料科学领域的应用，自组装单分子膜的成膜方法及其在金属和氧化物表面修饰的应用。

主办单位：重庆大学工程学部

承办单位：重庆大学材料学院

欢迎各单位老师参加，并针对有关问题现场提问。

具体详情请参见附件。