关注材料世界，聚焦FIB
——记系列学术沙龙之FIB在微区加工和透射样品制备中的应用
2015年4月24日下午由研究生创新实践基地和材料学院中心实验室联合举办的系列学术沙龙活动在重庆大学B区材料学院二楼学术报告厅顺利举办，主讲人贾佳琦（助理工程师），凭借在Zeiss Auriga FIB 电镜的管理与应用以及承担本科FIB电镜实验教学的工作经验和专业知识背景，以图文并茂的方式向在场的来自材料等专业同学介绍了聚焦离子束（FIB）场发射扫描双束电镜在微区加工及透射样品制备中的应用问题和注意事项。
活动伊始，主讲人即表示是一个综合性操作平台，设备所配备的Gemini-Lens镜筒可以对磁性材料进行成像，利用离子束的微纳加工特性，还可以对样品的结构进行三维重构，或者结合EBSD探头进行3D-EBSD. 除此之外电镜还配备了EBSD探头、EDS能谱探头、EsD等探头可以进行晶体取向和化学成分分析，除了对该仪器进行理论上的介绍，主讲人还讲到了制备样品时容易出现的错误以及制备相关样品所需要的时间。
不管什么仪器，最终还是靠人来完成工作，仪器只是发挥了辅助的作用，离不开使用者仔细认真的态度，同时也要付出必要的努力。主讲人就介绍到该实验中心的一位老师为了较好地实现样品的制备，曾通宵达旦地进行实验。
最后在主讲人讲解完后，还鼓励大家积极提问，以促进交流。在场的老师同学们向主讲人咨询了一些样品尺寸以及使用该仪器的技巧以及操作难度问题，主讲人都耐心地进行了解答。对于主讲人本身不清楚的问题，在场的老师及一些同学也积极帮助解决了，活动结束后，同学们纷纷表示，通过这次学术沙龙活动受益匪浅，收获颇丰。
说明：该仪器面向在校师生及社会工作人员付费使用，详情可见：
咨询电话：023-65106001
咨询地址：重庆大学A区综合实验大楼103
欢迎感兴趣的同学前来参加！
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2015年4月24日
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